| SIT891819.6608MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891824MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT89187.3728MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT89188.192MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 8MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT89189.8304MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT89189.84375MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 11.0592MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 12.288MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891812MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 13.52127MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891813.225625MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891813MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 14.7456MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891814.31818MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 15MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891816.384MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 16MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891818.432MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 20MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 22.1184MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891824.56MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891825MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 26MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 27MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 29.4912MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 30MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 32MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 33MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 36MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891840MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 48MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891850MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 54MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 60MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891862.5MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891865MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT891866MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 72MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 74.25MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 74.176MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 74.175824MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 75MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918 77.76MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918100MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT8918(LVCMOS, 1.8 V) |
Ibis模型GydF4y2Ba |
| SIT8918(LVCMOS, 2.5 V) |
Ibis模型GydF4y2Ba |
| SIT8918(LVCMOS,2.8 V)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
| SIT8918(LVCMOS,3.0 V)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
| SIT8918(LVCMOS,3.3 V)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
| SIT8918(LVCMOS,2.25至3.63 V)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
| 硅MEMS可靠性和弹性GydF4y2Ba |
Presentations |
| Performance Comparison: Silicon MEMS Verses Quartz Oscillators |
Presentations |
| MEMS振荡器提高了工业和高可靠性应用中的时钟性能GydF4y2Ba |
Presentations |
| 如何测量精密定时应用中的时钟抖动GydF4y2Ba |
Presentations |
| How to Measure Phase Jitter and Phase Noise in Precision Timing Applications |
Presentations |
| 如何使用Sentime的新现场编程器获得即时振荡器GydF4y2Ba |
Presentations |
| Silicon MEMS vs Quartz Supply Chain |
Presentations |
| Enhance Performance of Industrial Equipment with High-temperature, Ultra Robust MEMS Oscillators |
白皮书GydF4y2Ba |
| 硅MEMS振荡器为LED照明提供了益处GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
| MEMS定时解决方案改进触摸屏设备GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
| 用于医疗应用的现场可编程定时解决方案GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
| Ultra-robust MEMS timing solutions improve performance and reliability in meter applications |
白皮书GydF4y2Ba |
| MEMS oscillators improve reliability and system performance in motor control applications |
白皮书GydF4y2Ba |
| 基于MEMS的谐振器和振荡器现在更换了石英GydF4y2Ba |
Presentations |
| Getting In Touch with MEMS: The Electromechanical Interface |
Presentations |
| 现场可编程振荡器数据表GydF4y2Ba |
数据表s |
| SIT8918数据表GydF4y2Ba |
数据表s |
| Time Machine II MEMS Oscillator Programmer |
Product Briefs |
| J-AN10002シングルエンドシングルエンド器材のの推奨方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10002用于单端振荡器的终止建议,驱动单个或多个负载GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| J-AN10006仪器のPCBデザインのガイドラインGydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10006最佳设计和布局实践GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10007 Clock Jitter Definitions and Measurement Methods |
申请笔记GydF4y2Ba |
| J-AN10007 クロックジッタの定義と測定方法 |
申请笔记GydF4y2Ba |
| 距离浮气器函数计算方法GydF4y2Ba |
Technology Papers |
| AN10025 Reliability Calculations for SiTime Oscillators |
申请笔记GydF4y2Ba |
| J-AN10028プローブプローブ使使使しししたのの波形波形计测方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10028探测振荡器输出GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| MEMSおよび水晶ベース発振器の電磁場感受率の比較 |
Technology Papers |
| 基于MEMS和石英振荡器的电磁敏感性比较GydF4y2Ba |
Technology Papers |
| MEMS発振器材と水晶仪器のの比较(耐冲撃と移动)GydF4y2Ba |
Technology Papers |
| 基于MEMS和石英振荡器的冲击和振动比较GydF4y2Ba |
Technology Papers |
| J-AN10033 発振器の周波数測定ガイドライン |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10033 Frequency Measurement Guidelines for Oscillators |
申请笔记GydF4y2Ba |
| シリコンMEMS発振器の耐性および信頼性 |
Technology Papers |
| Resilience and Reliability of Silicon MEMS Oscillators |
Technology Papers |
| SITIMEのMEMS FIRST™プロセス技术GydF4y2Ba |
Technology Papers |
| stime的MEMS First™和Episeal™流程GydF4y2Ba |
Technology Papers |
| 使用振荡器而不是晶体谐振器的前8个理由GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
| MEMS谐振器优势 - MEMS谐振器如何工作第2部分betway开户官网GydF4y2Ba |
Presentations |
| How to Measure Long-term Jitter and Cycle-to-cycle Jitter in Precision Timing Applications |
Presentations |
| 硅MEMS振荡器频率特性和测量技术GydF4y2Ba |
Presentations |
| SC-AN10007 时钟抖动定义与测量方法 |
申请笔记GydF4y2Ba |
| SC-AN10033振荡频率销量江南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| Phase Noise Measurement Tutorial |
Videos |
| PCI使用相位噪声分析仪表达REFCLK抖动符合性GydF4y2Ba |
Presentations |
| Advantages of MEMS Timing - Parameters |
Videos |
| SINIME MEMS振荡器 - 彻底改变定时市场GydF4y2Ba |
Videos |
| Sentime的时间机器II - 第1部分:如何安装振荡器编程软件GydF4y2Ba |
Videos |
| 环境机器II - 第2部分:如何编程现场可编程振荡器GydF4y2Ba |
Videos |
| QFN 2016 4-PINSGydF4y2Ba |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
| QFN 2520 4-Pins |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
| qfn 3225 4-pinsGydF4y2Ba |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
| QFN 5032 4-Pins |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
| QFN 7050 4-Pins |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
| 工业时序解决方案GydF4y2Ba |
小册子/飞行员GydF4y2Ba |
| sitMEMS First 工艺 |
Technology Papers |
| AN10073如何设置实时示波器以测量抖动GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10071计算领带电信应用因素GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10070计算领带的非电信应用领带因素GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10072 Determine the Dominant Source of Phase Noise, by Inspection |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10074从RMS抖动测量中移除示波器噪声GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |