| SIT2018 7.3728MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 8.192MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT20189.8304MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 9.84375MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 11.0592MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201812.288MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 12MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 13.52127MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 13.225625MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 14.7456MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 14.31818MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201815MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 16.384MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201818.432MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201819.6608MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| 20MHz低压CMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 22.1184MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201824.56MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201824.576MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201824MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 25MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 26MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 27MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 29.4912MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 32MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 33MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 36MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 40MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201848MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201850MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 54MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 62.5MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 65MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SiT2018 72MHz LVCMOSGydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 74.25MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 74.176MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018 75MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT201877.76MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018100MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
| SIT2018(LVCMOS,1.8 V)GydF4y2Ba |
IBIS Models |
| SIT2018(LVCMOS,2.5 V)GydF4y2Ba |
IBIS Models |
| SiT2018(LVCMOS,2.8伏)GydF4y2Ba |
IBIS Models |
| SiT2018(LVCMOS,3.0 V)GydF4y2Ba |
IBIS Models |
| SiT2018(LVCMOS,3.3 V)GydF4y2Ba |
IBIS Models |
| SiT2018(2.25至3.63伏)GydF4y2Ba |
IBIS Models |
| 硅MEMS可靠性和弹性GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| 硅MEMS与石英振荡器的性能比较GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| MEMS Oscillators Enhance Clock Performance in Industrial and Hi-Reliability Applications |
演示文稿GydF4y2Ba |
| How to Measure Clock Jitter in Precision Timing Applications |
演示文稿GydF4y2Ba |
| 在精密定时应用中如何测量相位抖动和相位噪声GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| How to Get Instant Oscillators with SiTime's New Field Programmer |
演示文稿GydF4y2Ba |
| 硅MEMS与石英供应链GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| 硅MEMS振荡器为LED照明提供了益处GydF4y2Ba |
White Papers |
| MEMS定时解决方案改进触摸屏设备GydF4y2Ba |
White Papers |
| Field Programmable Timing Solutions for Medical Applications |
White Papers |
| 超健壮的MEMS时序解决方案提高了仪表应用的性能和可靠性GydF4y2Ba |
White Papers |
| MEMS振荡器提高了电机控制应用的可靠性和系统性能GydF4y2Ba |
White Papers |
| MEMS-Based Resonators and Oscillators are Now Replacing Quartz |
演示文稿GydF4y2Ba |
| 接触MEMS:机电接口GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| Field Programmable Oscillators Datasheet |
数据表GydF4y2Ba |
| SiT2018B产品介绍GydF4y2Ba |
数据表GydF4y2Ba |
| 时间机器II MEMS振荡器编程器GydF4y2Ba |
产品简介GydF4y2Ba |
| J-AN10002シングルエンドシングルエンド器材のの推奨方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10002 Termination Recommendations for Single-ended Oscillator Driving Single or Multiple Loads |
申请笔记GydF4y2Ba |
| J-AN10006 発振器のPCBデザインのガイドライン |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10006最佳设计和布局实践GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10007时钟抖动定义和测量方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| J-AN10007型クロックジッタの定義と測定方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| sit発振器の信頼性計算方法 |
科技论文GydF4y2Ba |
| AN10025 SiTime振荡器的可靠性计算GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| J-AN10028プローブプローブ使使使しししたのの波形波形计测方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10028 Probing Oscillator Output |
申请笔记GydF4y2Ba |
| 微机电系统および水晶ベース発振器の電磁場感受率の比較GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| 基于MEMS和石英振荡器的电磁敏感性比较GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| MEMS発振器材と水晶仪器のの比较(耐冲撃と移动)GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| 基于MEMS和石英振荡器的冲击和振动比较GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| J-AN10033型発振器の周波数測定ガイドラインGydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10033振荡器频率测量指南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| シリコン微机电系统発振器の耐性および信頼性GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| 硅MEMS振荡器的弹性和可靠性GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| SITIMEのMEMS FIRST™プロセス技术GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| stime的MEMS First™和Episeal™流程GydF4y2Ba |
科技论文GydF4y2Ba |
| The top 8 reasons to use an oscillator instead of a crystal resonator |
White Papers |
| MEMS Resonator Advantages - How MEMS Resonators Work Part 2 |
演示文稿GydF4y2Ba |
| 如何在精密定时应用中测量长期抖动和周期间抖动GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| Silicon MEMS Oscillator Frequency Characteristics and Measurement Techniques |
演示文稿GydF4y2Ba |
| AN10052 IEEE 1588 Precision Time Protocol (PTP) in ITU-T Standards |
申请笔记GydF4y2Ba |
| SC-AN10007型时钟抖动定义与测量方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| SC-AN10033振荡频率销量江南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| AN10062振荡器相位噪声测量指南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
| 相位噪声测量教程GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
| PCI使用相位噪声分析仪表达REFCLK抖动符合性GydF4y2Ba |
演示文稿GydF4y2Ba |
| MEMS定时参数的优点GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
| SINIME MEMS振荡器 - 彻底改变定时市场GydF4y2Ba |
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| 环境机器II - 第2部分:如何编程现场可编程振荡器GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
| sot 23 5-pinsGydF4y2Ba |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
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| SITIME MEMS定时解决方案(A4)GydF4y2Ba |
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Brochures/Fliers |
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| AN10071计算领带电信应用因素GydF4y2Ba |
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| AN10070 Computing TIE Crest Factors for Non-telecom Applications |
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| AN10072通过检测确定相位噪声的主要来源GydF4y2Ba |
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| 从RMS Jitte AN10074移除示波器噪声r Measurements |
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