SIT2018 7.3728MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 8.192MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT20188MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 9.8304MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 9.84375MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201811.0592MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 12.288MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 12MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201813.52127MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201813.225625MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201814.7456MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 14.31818MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 15MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 16.384MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 18.432MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 19.6608MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201820MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201822.1184MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 24.56MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 24.576MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 24MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 25MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201826MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201827MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201829.4912MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 32MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201833MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 36MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201840MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 48MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 50MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201854MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201862.5MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201865MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT201872MHz LVCMOS |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 74.25MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 74.176MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 75MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 77.76MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018 100MHz LVCMOS.GydF4y2Ba |
弗里克。测试报告GydF4y2Ba |
SIT2018(LVCMOS,1.8 V)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
SIT2018(LVCMOS,2.5 V)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
SiT2018(LVCMOS,2.8伏)GydF4y2Ba |
Ibis模型GydF4y2Ba |
SIT2018(LVCMOS, 3.0 V) |
Ibis模型GydF4y2Ba |
SIT2018(LVCMOS, 3.3 V) |
Ibis模型GydF4y2Ba |
SIT2018(2.25 to 3.63 V) |
Ibis模型GydF4y2Ba |
硅MEMS可靠性和弹性GydF4y2Ba |
Presentations |
Performance Comparison: Silicon MEMS Verses Quartz Oscillators |
Presentations |
MEMS振荡器提高了工业和高可靠性应用中的时钟性能GydF4y2Ba |
Presentations |
如何测量精密定时应用中的时钟抖动GydF4y2Ba |
Presentations |
How to Measure Phase Jitter and Phase Noise in Precision Timing Applications |
Presentations |
如何使用Sentime的新现场编程器获得即时振荡器GydF4y2Ba |
Presentations |
Silicon MEMS vs Quartz Supply Chain |
Presentations |
硅MEMS振荡器为LED照明提供了益处GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
MEMS定时解决方案改进触摸屏设备GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
用于医疗应用的现场可编程定时解决方案GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
Ultra-robust MEMS timing solutions improve performance and reliability in meter applications |
白皮书GydF4y2Ba |
MEMS oscillators improve reliability and system performance in motor control applications |
白皮书GydF4y2Ba |
基于MEMS的谐振器和振荡器现在更换了石英GydF4y2Ba |
Presentations |
Getting In Touch with MEMS: The Electromechanical Interface |
Presentations |
现场可编程振荡器数据表GydF4y2Ba |
数据表GydF4y2Ba |
SIT2018B Datasheet |
数据表GydF4y2Ba |
时间机器Ⅱ微机电振荡器编程器GydF4y2Ba |
Product Briefs |
J-AN10002シングルエンドシングルエンド器材のの推奨方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10002用于单端振荡器的终止建议,驱动单个或多个负载GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
J-AN10006仪器のPCBデザインのガイドラインGydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10006最佳设计和布局实践GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10007 Clock Jitter Definitions and Measurement Methods |
申请笔记GydF4y2Ba |
J-AN10007 クロックジッタの定義と測定方法 |
申请笔记GydF4y2Ba |
距离浮气器函数计算方法GydF4y2Ba |
Technology Papers |
AN10025 Reliability Calculations for SiTime Oscillators |
申请笔记GydF4y2Ba |
J-AN10028プローブプローブ使使使しししたのの波形波形计测方法GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10028探测振荡器输出GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
MEMSおよび水晶ベース発振器の電磁場感受率の比較 |
Technology Papers |
基于MEMS和石英振荡器的电磁敏感性比较GydF4y2Ba |
Technology Papers |
MEMS発振器材と水晶仪器のの比较(耐冲撃と移动)GydF4y2Ba |
Technology Papers |
基于MEMS和石英振荡器的冲击和振动比较GydF4y2Ba |
Technology Papers |
J-AN10033 発振器の周波数測定ガイドライン |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10033振荡器频率测量指南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
シリコンMEMS発振器の耐性および信頼性 |
Technology Papers |
Resilience and Reliability of Silicon MEMS Oscillators |
Technology Papers |
SITIMEのMEMS FIRST™プロセス技术GydF4y2Ba |
Technology Papers |
stime的MEMS First™和Episeal™流程GydF4y2Ba |
Technology Papers |
使用振荡器而不是晶体谐振器的前8个理由GydF4y2Ba |
白皮书GydF4y2Ba |
MEMS谐振器优势 - MEMS谐振器如何工作第2部分betway开户官网GydF4y2Ba |
Presentations |
How to Measure Long-term Jitter and Cycle-to-cycle Jitter in Precision Timing Applications |
Presentations |
硅MEMS振荡器频率特性和测量技术GydF4y2Ba |
Presentations |
AN10052 IEEE 1588 ITU-T标准的精密时间协议(PTP)GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
SC-AN10007 时钟抖动定义与测量方法 |
申请笔记GydF4y2Ba |
SC-AN10033振荡频率销量江南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10062振荡器相位噪声测量指南GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
Phase Noise Measurement Tutorial |
视频GydF4y2Ba |
PCI使用相位噪声分析仪表达REFCLK抖动符合性GydF4y2Ba |
Presentations |
Advantages of MEMS Timing - Parameters |
视频GydF4y2Ba |
SINIME MEMS振荡器 - 彻底改变定时市场GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
sit's Time Machine II - Part 1: How to Install Oscillator Programming Software |
视频GydF4y2Ba |
环境机器II - 第2部分:如何编程现场可编程振荡器GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
SOT 23 5针GydF4y2Ba |
3D步骤模型GydF4y2Ba |
SITIME MEMS定时解决方案(8.5x11)GydF4y2Ba |
小册子/飞行员GydF4y2Ba |
SiTime MEMS定时解决方案(A4)GydF4y2Ba |
小册子/飞行员GydF4y2Ba |
SiTime MEMS定时解决方案(A4)Chinese |
小册子/飞行员GydF4y2Ba |
工业时序解决方案GydF4y2Ba |
小册子/飞行员GydF4y2Ba |
硅取代石英(日文字幕)GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
硅取代石英(中文字幕)GydF4y2Ba |
视频GydF4y2Ba |
sitMEMS First 工艺 |
Technology Papers |
AN10073如何设置实时示波器以测量抖动GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10071计算领带电信应用因素GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10070计算领带的非电信应用领带因素GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10072 Determine the Dominant Source of Phase Noise, by Inspection |
申请笔记GydF4y2Ba |
AN10074从RMS抖动测量中移除示波器噪声GydF4y2Ba |
申请笔记GydF4y2Ba |