测试与测量

随着技术在各个领域的进步,测试和测量设备被要求分析和验证设备性能,并提高精度。这就需要一个准确、可靠的定时基准来衡量。SiTime MEMS时序解决方案提供了时钟合成所需的稳定引擎。除了证明更好的稳定性和更低的漂移,SiTime mems tcxo和ocxo具有更好的老化规格,延长了设备的长期精度,并增加了其价值。

下载应用程序简短

SiTime MEMS计时优势

完整的MEMS时钟树

精密MEMS OCXO

层3 Super-TCXO

10输出时钟发生器

在现实世界条件下最健壮

寿命稳定:10年内±70 ppb

简化补偿的I2C监控

集成MEMS,节省空间,简化物料编码

易于使用,经久耐用

自定义配置的解决方案

无石英可靠性问题

10亿小时平均无故障时间

测试和测量框图SiT53xxSiT57xxTCXOOCXOSiT9514xsitime.com

用于测试和测量的SiTime MEMS定时解决方案

装置 函数 频率 特征
SiT535xSuper-TCXO 时钟合成的稳定引擎 1 MHz ~ 220 MHz ±50至±250 ppb,±1 ppb/°C,±80 ppb 20年时效,70g振动耐久性
SiT5711OCXO 1 MHz ~ 60 MHz ±5 ppb,±70 ppb老化超过10年
SiT5721数控OCXO 1 MHz ~ 60 MHz 10年以上老化±70 ppb,I2.C可编程
SiT9514x时钟发生器/抖动衰减器 灵活的时钟合成和抖动衰减 8千赫至2.1千兆赫 120 fs抖动同步,4输入和8输出

MEMS定时性能优于石英

更好的稳定性

更好的频率斜率

graphs-industrial_Better-Stability

graphs-industrial_Better-Frequency-Slope

更快的热身

更好的抗振性

graphs-industrial_Faster-Warm-Up

graphs-industrial_Better-Vibration-Resistance

更好的艾伦偏差

更好的老化

graphs-industrial_Better-Allan-Deviation 图-工业老化